Urządzenie do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych, sposób kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych oraz zastosowanie urządzenia do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych

Nazwa rezultatu

Urządzenie do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych, sposób kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych oraz zastosowanie urządzenia do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych

Wydział PWr

W10 Wydział Mechaniczny

Status IP

Zgłoszenie patentowe

Zgłoszenie patentowe

P.409449

Numer aplikacji UPRP

P.409449

Data zgłoszenia w UPRP

10/09/2014

Twórcy

Reiner Jacek

Mrzygłód Mariusz

Tryba Dariusz

Trzyna Marcin

Cieszyński Wojciech

Jaremek Henryk

Zmywaczyk Janusz

Dane kontaktowe do konsultanta / Imię i nazwisko

Jacek Pietrzak, tel. 71 320 43 42, e-mail: jacek.pietrzak@pwr.edu.pl; Tomasz Marciniszyn, tel. 71 320 41 95, e-mail: tomasz.marciniszyn@pwr.edu.pl; Anna Szczypka, tel. 71 320 43 51, e-mail: anna.szczypka@pwr.edu.pl