BOFR20230817002
Abstract in Polish
Francuskie MŚP oferuje usługi charakteryzacji materiałów za pomocą mikroskopii sił atomowych (AFM) i dyfrakcji promieni rentgenowskich. AFM to potężne narzędzie do charakteryzowania topografii powierzchni na poziomie nanoskali. Dodatkowe funkcje AFM mogą dostarczać informacji o lokalnej przewodności elektrycznej, ładunku powierzchniowym i funkcji pracy, a także o właściwościach piezoelektrycznych i przyczepności.
Abstract in English
French SME offers material characterisation services by Atomic Force Microscopy (AFM) and X-Ray diffraction. The AFM is a powerful tool to characterise surface topography at nanoscale level. AFM's additional functionalities can provide information about local electrical conductivity, surface charge and work function and piezoelectric properties and adhesion.